SEM（扫描电子显微镜）和TEM（透射电子显微镜）是两种常用的电子显微镜技术，用于研究微观结构和特征的工具。它们在样品制备、工作原理和应用方面有所不同。下面详细介绍这两种显微镜技术：
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1. SEM（扫描电子显微镜） - SEM是一种表面成像技术，广泛用于观察和分析样品表面的形状、拓扑结构、粗糙度等信息。 - 工作原理：SEM使用高能电子束来扫描样品表面。当电子束与样品表面相互作用时，会产生多种信号，包括二次电子、反射电子、中子电子等。这些信号被探测并转换为图像。 - 样品制备：通常需要将样品涂覆薄层金属，以提高电导率，以便在SEM中观察。此外，样品通常需要真空环境以避免电子束与空气分子相互作用。 - 分辨率：SEM具有中等分辨率，通常在1纳米到10纳米范围内，取决于仪器性能和样品制备。
2. TEM（透射电子显微镜） - TEM是一种穿透样品的电子显微镜技术，主要用于观察样品的内部结构，包括原子级别的细节。 - 工作原理：TEM通过将电子束穿透样品并测量通过样品的电子来获得图像。这要求样品必须非常薄，通常在几百纳米到数十纳米的厚度范围内，以确保电子能够透射样品。 - 样品制备：制备TEM样品通常比较复杂，需要将样品切成非常薄的切片，并经过特殊的处理，如离子薄层切割或冷冻切割。样品必须具有足够的透射性，以允许电子透射而不被吸收。 - 分辨率：TEM具有非常高的分辨率，通常可以达到0.1纳米以下，使其成为观察纳米尺度结构的有力工具。
总结：
总结： SEM主要用于表面成像，适用于观察样品的外部形状和特征，而TEM则用于内部结构的高分辨率观察，可用于研究样品的原子级别细节。选择SEM还是TEM取决于您的研究需求和样品性质。