SEM(扫描电子显微镜)和TEM(透射电子显微镜)是两种常用的电子显微镜技术,用于研究微观结构和特征的工具。它们在样品制备、工作原理和应用方面有所不同。下面详细介绍这两种显微镜技术:
SEM(扫描电子显微镜)和TEM(透射电子显微镜)是两种常用的电子显微镜技术,用于研究微观结构和特征的工具。它们在样品制备、工作原理和应用方面有所不同。下面详细介绍这两种显微镜技术:
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